Здравствуйте.
Недавно натолкнулись на такую проблему: нам необходимо провести испытание на воздействие ШСВ на двух контрольных датчиках, и чтобы показания с каждого из них были максимально близки к общему контрольному или были в допустимых пределах ±3Дб. То, что получилось у нас, я прикрепил к этому письму. На графике видна серьёзная разница в построении профиля между 1м и 2м контрольными датчиками начиная с частоты 1245 Гц. При испытании использовалась аппаратура: стенд ВЭДС 1500, Анализатор спектра ZET 017-U4; объект испытания: алюминиевая плита(500мм*250мм*30мм). Возможно ли как-то улучшить показания (например, изменив какие-то настройки в программе)?
Будем очень благодарны,если ответите в течение сегодняшнего рабочего дня.